美國科研人員研究出抗小麥葉銹病的基因

       美國農(nóng)業(yè)研究局植物學(xué)家Gina Brown-Guedira正在將現(xiàn)代小麥的兩個祖先（一個是從阿富汗到敘利亞發(fā)現(xiàn)的小麥的近親雜草Aegilops tauschii，一個是從伊朗、伊拉克和土耳其發(fā)現(xiàn)的Triticum timopheevii）中的抗葉銹病基因組合進小麥基因結(jié)構(gòu)。葉銹病是由真菌病原體Puccinia triticinia導(dǎo)致的，不僅減少小麥的產(chǎn)量，還影響小麥面粉和烤制品的質(zhì)量。過去，小麥育種項目已經(jīng)培育出抗病品種，但這些小麥僅有一個抗葉銹病基因。推出幾年后，這些品種通常開始喪失抗病效果。Brown-Guedira已經(jīng)識別出小麥DNA標識物--一段小的DNA片段在凝膠體上可以看到，并且已知與抗病基因有關(guān)聯(lián)。
　　這些標識物為識別小麥葉銹病抗性提供了快捷方式，因為在植物生長的任何階段都可以看到?，F(xiàn)在科學(xué)家必須采用費時間的傳統(tǒng)基因研究才能判定一種植物是否有一個以上的抗病基因。而Brown-Guedira能夠測試植物幾個DNA標識物的存在，因為標識物與抗病基因緊密相連，有很多機會顯示抗病基因的存在。這項研究能夠加快培育種質(zhì)和帶有多個抗病基因的品種步伐。

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